uno.Descrizione della funzione：
Metodo di prova standard con sonda a quattro punti, utilizzando un sistema a passo per controllare automaticamente il contatto della sonda con il campione, riducendo l'impatto dei fattori umani sui risultati del test; Riferimento a. standard S.T.M; Misura di resistenza quadrata, resistenza, dati di conduttività, acquisizione e elaborazione dei dati dal software PC per modalità di punteggio automatica o manuale, test ripetuti nella stessa posizione o misurazione di resistenza superficiale a più punti, output di reportanalisi statistiche dei dati; Resistenze di calibrazione standard.
Tester semiautomatico a quattro sonde della serie FT-3120
Due..Scopo di applicazione:
wafer,Silicio non cristallino/ misurazione della resistenza del silicio microcristallino e della pellicola conduttiva; diffusione polare a emissione selettiva; passività superficiale; Crossfingering PN Node Diffusion Lamp;* Progettazione degli elettrodi, come la misurazione della resistenza al rame galvanizzato, ecc.;Analisi dei materiali semiconduttori, ferroelettrici, nanomateriali, celle solari,LCD，OLED， Touch screen ecc.
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Tester semiautomatico a quattro sonde della serie FT-3120
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Tre.Parametri tecnici:
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Specifiche del modello
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FT-3120A
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FT-3120B
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FT-3120C
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FT-3120D
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1. resistenza
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10^-3～2×10^4Ω
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10^-5～2×10^5Ω
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10^-6～2×10^5Ω
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10-4～1×107Ω
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2. Resistenza quadrata
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10^-3～2×10^4Ω/□
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10^-5～2×10^5Ω/□
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10^-6～2×10^5Ω/□
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10-4～1×107Ω/□
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3. Resistenza
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10^-4～2×10^5Ω-cm
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10^-6～2×10^6Ω-cm
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10-7～2×106Ω-cm
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10-5～2×108Ω-cm
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4. corrente di prova
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0.1μA. μA.0μA，100µA，1mA，
10mA，100mA
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1A, 100mA, 10mA, 1mA, 100uA, 10uA, 1uA, 0,1uA
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10mA ---200pA
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5. Precisione della corrente
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±0.1%
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±2%
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Precisione della resistenza
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≤0.3%
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≤10%
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7.Operazione del software PC
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Interfaccia software PC: resistenza, resistenza, conduttività, resistenza quadrata, temperatura, convertitore di unità, corrente, tensione, forma della sonda, spazio della sonda, spessore,Analisi della gestione dei dati: dati di processo, valori grandi e piccoli, medie, varianze, coefficienti di variabilità, numerazione del campione, statistiche dei punti di provaGenerazione di reportAspetta.
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8.SondaScopo:
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La pressione della sonda è di 100-550g; Regolazione manuale in base al contatto del campione
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9. ricercaaghi
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Resistenza di isolamento: ≥ 1000MΩ； Tasso di spostamento meccanico: ≤ 0.3%
Testa rotondaramePlacato oromateriale,Spazio della sonda1mm； 2mm； 3mm opzionale,Altre specifiche personalizzabili
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10.Chip misurabile
DimensioniAcquisto
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Dimensioni del wafer: 2-12 pollici（6 pollici150mm，12 pollici300mm）；
Piano quadrato: fino a 156mm x 156mm o 125mm x 125mm
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11. Modalità di analisi
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Automatico o manualePunto singoloModalità
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12Metodo di pressione
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Ripetibilità della misurazione: ≤3%
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13Protezione della sicurezza
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con range limite e protezione da pressione; Protezione contro malfunzionamento e arresto di emergenza; allarme anormale
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14.Ambiente di prova
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Ambiente di laboratorio
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15.Alimentazione
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Ingresso: AC 220V±10%.50 Hz Consumo di energia: <100W
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16Elezione degli articoli
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Computer e stampanti
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